在3C產(chǎn)品尺寸測量領(lǐng)域，普遍存在精度要求嚴苛、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)復(fù)雜、檢測效率要求高等行業(yè)共性難題。天準(zhǔn)深度融合光學(xué)、機械、電子等領(lǐng)域的多項創(chuàng)新專利技術(shù)，成功實現(xiàn)了微米級精度與高速檢測相統(tǒng)一的高性能測量指標(biāo)。